長崎総合科学大学教授の田中義人は、高エネルギー物理実験の　　　　　研究者でUSA・ロングアイランドのブルックヘブン国立研究所の　　　PHENIX実験に参加し、加速器を使用して宇宙の始まりの物理状態を　　　明らかにする研究に携わってきました。
この高エネルギー実験で使われているデータ収集システムは
現在の半導体検査装置の10年先を行く技術であり、
このPHENIX実験で開発した超精密測定技術を活用した
独自の半導体検査装置開発に注目し半導体の検査装置、
検査技術、市場などを調査した後に2003年7月に
弊社を設立致しました。

LSIの集積度が高まるにつれ、半導体の設計、製造、検査という
一連の行程の最終段階である検査工程の重要性が増しております。
ここで不良を見逃せば大きなトラブルが発生してしまいます。
一方、液晶テレビや携帯電話などエレクトロニクス製品は低価格化が
進んでおります。半導体の製造コストは、開発コスト、製造コスト、
検査コストの影響を受けます。
このうち開発コストと製造コストは下がっていますが、
検査コストはなかなか下がりません。
半導体の微細プロセスが進むとそれに追従して機能が高度化し、
検査も複雑化して検査装置も高額化してしまうからです。
一説では、現在のデジタル家電に搭載されているLSIの90%が
デジタルアナログ混載のLSIで、この半導体コストの20%〜40%が
検査コストであると言われております。
弊社は、この問題に対し物理学分野の独自技術を用いた
半導体検査手法を提供しております。